ИСТИНА

На основе метода нейтронных стоячих волн в рефлектометрии поляризованных нейтронов получение ядерных и магнитных профилей плотности длины рассеяния в слоистых структурах с точностью не хуже 1 нм. Выявление механизма формирования волн спиновой плотности в тонких пленках типа Cr/V и определение критической толщины Cr, при которой возможно формирование волн спиновой плотности. Определение магнитной структуры Cr при контакте с ферро- или пара- магнитной средой. Определение магнитной и ядерной структуры в многослойной системах типа Fe/V по глубине в зависимости от термодинамических параметров (температура, внешнее магнитное поле) и толщины слоев, определение условий возникновения магнитных кластеров. Проведение классической магнитной магнитометрии на тонких слоистых структурах. Проведение тестирования ряда магнитных жидкостей посредством классической магнетометрии. Проведение исследований жидких наноуглеродных дисперсий с помощью Рамановской спектроскопии. Выяснение механизмов стабилизации в системах: водные фуллереновые дисперсии, водные дисперсии шунгитов, дисперсии детонационных наноалмазов в различных полярных растворителях.

В ходе НИР с использованием Рамановской спектроскопии исследовались различные водные дисперсии наноуглеродных материалов. Целью работы было детектирование взаимодействия воды с углеродными наночастицами для выяснения механизмов стабилизации в системах: водные фуллереновые дисперсии, водные дисперсии шунгитов, дисперсии детонационных наноалмазов в различных полярных растворителях. Данные эксперименты проводились дополнительно к исследованиям дисперсий методом малоуглового рассеяния нейтронов. В ходе НИР проведена классическая магнитометрия ряда магнитных жидкостей. Определены характерные параметры функции распределения по размерам магнитных частиц. Проведено сравнение с данными малоуглового рассеяния нейтронов на тех же системах. В ходе НИР с помощью рефлектометрии поляризованных нейтронов были проведены исследования наноструктур, составленных из относительно толстого слоя сверхпроводника (~10 нм) и периодической структуры из относительно тонких (~1 нм) ферромагнитных и сверхпроводящих слоёв (типы Cr/V и Fe/V). В ходе НИР проведена магнитометрия тонких мультислойных магнитных пленок типа ферромагнетик-полупроводник. Задачей исследования ставилось определение поля насыщения, а также изучение влияния толщины слоя полупроводника на намагниченность пленки.