|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
XAFS AND XPS STUDY OF GERMANIUM AND GALLIUM ARSENIC NANOSTRUCTURES LOCATED IN POROUS ALUMINA MATRICESтезисы доклада
- Авторы: Kriventsov V.V., Valeev R.G., Vetoshkin V.M., Yakimchuk E.P., Novgorodov B.N., Maksimovsky E.A., Khorev A.G., Mezentsev N.A.
- Сборник: Фундаментальные и прикладные аспекты новых высокоэффективных материалов
- Тезисы
- Год издания: 2014
- Первая страница: 94
- Последняя страница: 94
- Добавил в систему: Ветошкин Владимир Михайлович