Использование протяженных тонких структур спектров энергетических потерь электронов для определения параметров атомных парных корреляций в оксидных пленках никелястатьяИсследовательская статья
Статья опубликована в журнале из списка RSCI Web of Science
Аннотация:Получены спектры протяженных тонких структур энергетических потерь электронов (EELFS) с поверхностей чистого никеля (M2,3 EELFS) стехиометрической оксидной пленки NiO (M2,3 EELFS-спектры никеля и K EELFS-спектры кислорода) и ″негомогенной″ оксидной пленки на поверхности никеля Ni-O (M2,3 EELFS-спектры никеля и K EELFS-спектры кислорода). С учетом мультипольности процесса возбуждения внутренних уровней атомов электронным ударом проведены расчеты амплитуд и интенсивностей процессов электронных переходов для соответствующих внутренних уровней атомов. По результатам расчетов из экспериментальных EELFS спектров выделены соответствующие нормированные осциллирующие части. Хорошее соответствие экспериментальных данных и теоретических расчетов (на тестовых объектах Ni и NiO) показало, что использованные теоретические подходы и результаты расчетов для описания EELFS-спектров являются хорошим приближением. Используя результаты проведенных расчетов и параметры упругого рассеяния вторичного электрона (данные FEEF-8), методами регуляризации по Тихонову получены атомные парные корреляционные функции из экспериментальных нормированных осциллирующих частей EELFS-спектров.