|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
Использование протяженных тонких структур спектров энергетических потерь электронов для определения параметров атомных парных корреляций в оксидных пленках никелястатья Исследовательская статья
Статья опубликована в журнале из списка RSCI Web of Science
Статья опубликована в журнале из перечня ВАК- Авторы: Гай Д.Е., Бакиева О.Р., Деев А.Н., Гильмутдинов Ф.З.
- Журнал: Журнал структурной химии
- Том: 50
- Номер: 2
- Год издания: 2009
- Издательство: Изд-во СО РАН
- Местоположение издательства: Новосибирск
- Первая страница: 275
- Последняя страница: 282
- Аннотация: Получены спектры протяженных тонких структур энергетических потерь электронов (EELFS) с поверхностей чистого никеля (M2,3 EELFS) стехиометрической оксидной пленки NiO (M2,3 EELFS-спектры никеля и K EELFS-спектры кислорода) и ″негомогенной″ оксидной пленки на поверхности никеля Ni-O (M2,3 EELFS-спектры никеля и K EELFS-спектры кислорода). С учетом мультипольности процесса возбуждения внутренних уровней атомов электронным ударом проведены расчеты амплитуд и интенсивностей процессов электронных переходов для соответствующих внутренних уровней атомов. По результатам расчетов из экспериментальных EELFS спектров выделены соответствующие нормированные осциллирующие части. Хорошее соответствие экспериментальных данных и теоретических расчетов (на тестовых объектах Ni и NiO) показало, что использованные теоретические подходы и результаты расчетов для описания EELFS-спектров являются хорошим приближением. Используя результаты проведенных расчетов и параметры упругого рассеяния вторичного электрона (данные FEEF-8), методами регуляризации по Тихонову получены атомные парные корреляционные функции из экспериментальных нормированных осциллирующих частей EELFS-спектров.
- Добавил в систему: Бакиева Ольга Ринатовна