Аннотация:Получены спектры протяженных тонких структур энергетических потерь электронов (EELFS) образцов чистого никеля (M2,3 EELFS), стехиометрической оксидной пленки NiO (M2,3 EELFS-спектры никеля и K EELFS-спектры кислорода) и “негомогенной” оксидной пленки на поверхности никеля NiO (M2,3 EELFS-спектры никеля и K EELFS-спектры кислорода). С учетом мультипольности процесса возбуждения внутренних уровней атомов электронным ударом проведены расчеты амплитуд и интенсивностей электронных переходов для соответствующих внутренних уровней атомов. При использовании результатов расчетов из экспериментальных EELFS-спектров выделены нормированные осциллирующие части. Хорошее соответствие экспериментальных данных и теоретических расчетов на тестовых объектах Ni и NiO показало, что применяемые теоретические подходы и результаты расчетов для описания EELFS-спектров являются хорошим приближением. Методом регуляризации по Тихонову получены атомные парные корреляционные функции из экспериментальных нормированных осциллирующих частей