Аннотация:В широком диапазоне температур исследована электропроводность керамических образцов ле-
гированного магнием хромита меди (I) CuCr1−xMgxO2 (x = 0; 0.002; 0.008; 0.015; 0.030; 0.060),
синтезированных твердофазным методом c использованием химической гомогенизации. Образцы
охарактеризованы порошковой рентгеновской дифракцией и спектроскопией комбинационного рас-
сеяния света. Дырочный тип проводимости синтезированных образцов подтверждён знаком ко-
эффициента Зеебека. Анализ температурных зависимостей электропроводности показал, что на-
блюдаемая электропроводность является прыжковой для содержания магния от 0 до 6 ат.%. По
температурным зависимостям электропроводности были получены оценки радиуса локализации.