В связи с техническими работами в центре обработки данных, возможность загрузки и скачивания файлов временно недоступна.
 

In Situ Characterization of XFEL Beam Intensity Distribution and Focusability by High-Resolution LiF Crystal Detectorстатья Глава в книге

Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 24 октября 2018 г.