Single fault detection tests for generalized iterative switching circuitsстатья
Информация о цитировании статьи получена из
Scopus
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 26 декабря 2015 г.
Аннотация:It is established that for nonconstant Boolean function f(x1, ..., xn), there is a testable generalized iterative switching circuit in which function f is realized and the single fault detection test of constant length is assumed.