|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
Анализ плоских цилиндрических дефектов подложки методом интегральных уравнений в спектральной областистатья
- Автор: Лопушенко В.В.
- Сборник: Прикладная математика и информатика: Труды факультета ВМК МГУ им. М.В.Ломоносова
- Том: 48
- Год издания: 2015
- Место издания: МАКС Пресс Москва
- Первая страница: 56
- Последняя страница: 75
- Аннотация: В работе предложена новая модификация метода объемных интегральных уравнений в спектральной области, разработанного для анализа поверхностных дефектов малой толщины. Реализована возможность моделирования объектов в форме эллиптических цилиндров, расположенных как непосредственно на подложке, так и на некотором расстоянии от нее. Метод строится на основе тензора Грина полупространства с последующим переходом в спектральную область. Важной особенностью рассматриваемого подхода является прямое вычисление рассеянного поля в дальней зоне через спектральные образы объемных токов внутри рассеивателя. К достоинствам рассматриваемого подхода следует отнести его высокую производительность, обусловленную применением быстрых алгоритмов дискретного преобразования Фурье. С помощью построенного метода проведен анализ рассеивающих характеристик ряда дефектов различной формы. В частности, исследовано поведение диаграммы рассеяния в зависимости от поляризации падающей плоской волны, а также вытянутости объекта, его показателя преломления и возвышения над подложкой.
- Добавил в систему: Лопушенко Владимир Васильевич