Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИСТИНА ИНХС РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
A scanning high-Tc dc SQUID microscopy of the YBCO thin-film samples at 77K
статья
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 27 января 2016 г.
Авторы:
Gudoshnikov S.A.
, Koshelev M.I.,
Kalabukhov A.S.
, Matveets L.V.,
Mueck M.
,
Dechert J.
,
Heiden C.
,
Snigirev O.V.
Сборник:
Inst. Physics Conf. Ser
Том:
167
Год издания:
2000
Место издания:
IOP Pub. Ltd Bristol, UK, England
Первая страница:
541
Последняя страница:
544
Добавил в систему:
Снигирев Олег Васильевич