|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
Анализ структуры наноматериалов с помощью рентгеновских излученийтезисы доклада
- Авторы: Саркисов П.Д., Байков Ю.А., Мешалкин В.П.
- Сборник: 2 Всерос. Совещ. ученых, инженеров и производителей в области нанотехнологий: Тез. докл
- Тезисы
- Год издания: 2008
- Место издания: Москва
- Первая страница: 25
- Добавил в систему: Мешалкин Валерий Павлович