Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИСТИНА ИНХС РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Structural Properties and Characterization Grain- Domain Structure of the GaN Thin film Grown on SiC and Al2O3 substrates. // MRS 1997 Fall Meeting Dec. 1-5, 1997 Boston, MA D10.2 Abstracts Page 118
тезисы доклада
Авторы:
Boiko M.E.
,
Mokhov E.N.
Сборник:
MRS 1997 Fall Meeting Dec. 1-5
Серия:
Abstracts of Symposium Presentations
Тезисы
Год издания:
1997
Место издания:
Boston, MA D10.2
Последняя страница:
118
Добавил в систему:
Бойко Михаил Евгеньевич