|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
Nano - crystal semiconductors characterization with Small-Angle Scattering of X-raysтезисы доклада
- Авторы: Boiko M.E., Eremin I.V.
- Сборник: III Международная конференция «Аморфные и микрокристаллические полупроводники»
- Тезисы
- Год издания: 2002
- Место издания: Санкт-Петербург
- Добавил в систему: Бойко Михаил Евгеньевич