XPS study of ion irradiated and unirradiated CeO2 bulk and thin film samplesстатья

Статья опубликована в высокорейтинговом журнале

Информация о цитировании статьи получена из Scopus, Web of Science
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 10 августа 2018 г.

Прикрепленные файлы


Имя Описание Имя файла Размер Добавлен
1. Полный текст Maslakov2018ApllSurfSci.pdf 1,3 МБ 5 мая 2018 [maslakov]