Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИСТИНА ИНХС РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Investigation of SiO2/Si Structure Combine Implanted by Zn+ and O+ Ions. Oral present
тезисы доклада
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 30 марта 2016 г.
Авторы:
Kulikauskas V.
,
Zatekin V.
, Privezentsev V., Zinenko V., Agafonov Yu, Egorov V., Steinman E., Tereshchenko A.
Сборник:
Proc. of the Intern. Conf. on Advanced Mater. and Technol. (ICAMT 2015) 21-23 October
Тезисы
Год издания:
2015
Место издания:
Tbilisi, Georgia
Первая страница:
60
Последняя страница:
63
Добавил в систему:
Затекин Владимир Витальевич