|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
Определение толщины сверхтонких аморфных пленок по данным зеркального отражения рентгеновских лучей в условиях некомпланарной дифракциистатья
Статья опубликована в журнале из списка RSCI Web of Science
- Авторы: Бушуев В.А., Имамов Р.М., Мухамеджанов Э.Х., Орешко А.П.
- Журнал: Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования
- Номер: 1
- Год издания: 2002
- Издательство: ФГБУ "Издательство "Наука"
- Местоположение издательства: Москва
- Первая страница: 22
- Последняя страница: 26
- Добавил в систему: Бушуев Владимир Алексеевич
Прикрепленные файлы
| № | Имя | Описание | Имя файла | Размер | Добавлен |
|---|---|---|---|---|---|
| 1. | Полный текст | Poverhnost_2002-01-s22_-_Opredelenie_tolschinyi_sverhtonkih… | 134,9 КБ | 27 мая 2014 [bushuevVA] |