|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
Неразрушающий контроль магнитных свойств тонких приповерхностных слоев разной толщины в элементах магнитной микроэлектроникитезисы доклада
- Автор: Зубов В.Е.
- Сборник: Тезисы докладов Российской науч.-тех. конференции "Новые материалы и технологии". Направление: Технологические проц. и материалы приборостроения и микроэлектроники
- Тезисы
- Год издания: 1997
- Место издания: МАТИ г. Москва
- Первая страница: 59
- Последняя страница: 59
- Добавил в систему: Зубов Виктор Евгеньевич