Место издания:Издание Ивановского Государственного Химико-технологического Университета Иваново
Первая страница:4
Последняя страница:9
Аннотация:Комплексный анализ высокосовершенных синтетических кристаллов алмаза, основанный на данных рентгеновской топографии, дифрактометрии высокого разрешения и оптической спектроскопии, позволил определить структурные параметры, обеспечивающие рекордное значение коэффициента брэгговского отражения для жесткого рентгеновского монохроматического излучения