|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
О некоторых особенностях фокусировки распыленных атомов при эмиссии с поверхности грани (001) Niтезисы доклада
- Авторы: Самойлов В.Н., Мусин А.И.
- Сборник: Тезисы докладов 48-й Международной Тулиновской конференции "Физика взаимодействия заряженных частиц с кристаллами", Москва, 29–31 мая 2018
- Тезисы
- Год издания: 2018
- Место издания: Москва: КДУ, Университетская книга
- Первая страница: 19
- Последняя страница: 19
- Аннотация: Стендовый доклад, был представлен на конференции 29 мая 2018. В настоящей работе показано, что перефокусированные атомы очень чувствительны к выбору модели, что не так для фокусированных атомов. Обнаружена многозначность распределения перефокусированных атомов по начальному азимутальному углу вылета, в основе которой лежит многократное рассеяние эмитированного атома на атомах поверхности. Уменьшение числа фокусированных и перефокусированных атомов при магнитном p–f переходе оказалось более сильным, чем уменьшение числа всех распыленных атомов. Также обсуждается вопрос, материалы с какой энергией связи нужно брать для лучшего разрешения максимумов фокусированных и перефокусированных атомов.
- Добавил в систему: Самойлов Владимир Николаевич