|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
X-Ray Topography: Yesterday, Today, and Prospects for the Futureстатья
Информация о цитировании статьи получена из
Web of Science,
Scopus
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 1 ноября 2018 г.
- Автор: Suvorov E.V.
- Журнал: Journal of Surface Investigation: X-ray, Synchrotron and Neutron Techniques
- Том: 12
- Номер: 5
- Год издания: 2018
- Издательство: Pleiades Publishing, Ltd
- Местоположение издательства: Road Town, United Kingdom
- Первая страница: 835
- Последняя страница: 852
- DOI: 10.1134/S0207352818090020
- Аннотация: X-RAY TOPOGRAPHY YESTERDAY, TODAY AND PROSPECTS Ernest Vitalievich Suvorov Institute of Solid State Physics, Russian Academy of Sciences, Chernogolovka, Moscow District E-mail: suvorov@issp.ac.ru X-ray topography is a complex of X-ray diffraction methods allowing one to detect the images of defects, to determine their type, the arrangement in a crystal structure volume or on its surface, to measure their basic characteristics. The possibilities, limitations and prospects of X-ray topography methods are discussed in the given work.
- Добавил в систему: Суворов Эрнест Витальевич