Оценка s-характера галогенов в основной валентности из анализа геометрии электронных пар валентной оболочкистатья
Статья опубликована в журнале из списка RSCI Web of Science
Информация о цитировании статьи получена из
Scopus
Статья опубликована в журнале из перечня ВАК
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 16 февраля 2016 г.
Аннотация:Предложен новый метод оценки s-характера галогенов, основанный на анализе взаимного
расположения электронных пар валентной оболочки. Локализация электронных пар определялась из анализа топологии скалярного поля лапласиана электронной плотности L(r) = –∇2ρ(r), полученного из неэмпирических квантовохимических расчетов. Гибридизационные характеристики галогенов, полученные таким образом, могут быть применены для построения параметрических расчетных схем молекулярного моделирования