Investigation of the Atomic, Crystal, and Domain Structures of Materials Based on X-ray Diffraction and Absorption Data: A Reviewстатья
Информация о цитировании статьи получена из
Web of Science,
Scopus
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 11 января 2016 г.
Аннотация:Ways to gain and analyze experimental data obtained by X-ray techniques used in material examination are described. Emphasis is on the methods of extended X-ray absorption fine structure, X-ray diffraction, and X-ray small-angle scattering.