|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
Effect of mechanical deformations on absorption spectrum of metallic films of nanometer thicknessтезисы доклада
- Авторы: Tsysar K.M., Smelova E.M., Zelensky V.S., Andreev V.G., Vdovin V.A.
- Сборник: Book of Abstracts of the International Conference “Micro- and Nanoelectronics – 2018” (ICMNE-2018), Zvenigorod, Russia, October 1-5
- Тезисы
- Год издания: 2018
- Первая страница: 168
- Последняя страница: 168
- Добавил в систему: Андреев Валерий Георгиевич