Measurement of the bending of thin inclined nanowires as a method for determining elastic modulusстатья
Информация о цитировании статьи получена из
Scopus
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 10 апреля 2019 г.
Аннотация:The method of measuring nanowires elastic modulus by scanning probe microscopy is presented. This method uses the measurement of nanowire bending profiles in the precise force control mode. The possibilities of the method are demonstrated by measuring the Young's modulus of thin tapered InP nanowires.