|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
Дебаевская длина экранирования электрического поля в полупроводниках с различными примесными уровнямистатья
Статья опубликована в журнале из списка RSCI Web of Science
Статья опубликована в журнале из перечня ВАК- Авторы: Мурыгин В.И., Лосев В.В., Гундырев В.Б.
- Журнал: Известия высших учебных заведений. Электроника
- Номер: 1
- Год издания: 2004
- Издательство: Национальный исследовательский университет "Московский институт электронной техники"
- Местоположение издательства: Москва
- Первая страница: 43
- Последняя страница: 47
- Добавил в систему: Гундырев Вадим Борисович