Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИСТИНА ИНХС РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Применение спектрометрии ядерного обратного рассеяния (ЯОР) протонов для исследования защитных покрытий на циркониевых изделиях
тезисы доклада
Авторы:
Борисов А.М.
,
Востриков В.Г.
,
Затекин В.В.
, Иванова С.В.,
Куликаускас В.С.
,
Лесневский Л.Н.
,
Ляховецкий М.А.
,
Романовский Е.А.
,
Ткаченко Н.В.
,
Тюрин В.Н.
Сборник:
Тезисы докладов XLI международной конференции по физике взаимодействия заряженных частиц с кристаллами
Тезисы
Год издания:
2011
Место издания:
Университетская книга
Первая страница:
124
Последняя страница:
124
Добавил в систему:
Востриков Владимир Геннадьевич