Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИСТИНА ИНХС РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Scanning tunneling microscope for investigation of surface samples in inspection gas environment
статья
Авторы:
Moiseev Yu N.
,
Oreshkin A.I.
,
Oreshkin S.I.
,
Vasil'ev S.I.
,
Savinov S.V.
Журнал:
«Электронная промышленность»,
Номер:
10
Год издания:
1993
Первая страница:
37
Последняя страница:
38
Добавил в систему:
Орешкин Андрей Иванович