Modeling of the Thermal-Motion-Induced Effects in Resonant X-ray Diffraction Observed for Ge and ZnO

Dmitrienko, V.E.; Ovchinnikova, E.N.; Kolchinskaya, A.M.; Oreshko, A.P.; Bazhanov, D.I.; Kokubun, J.; Ishida, K.; Collins, S.P.; Mukhamedzhanov, E.K.

Modeling of the Thermal-Motion-Induced Effects in Resonant X-ray Diffraction Observed for Ge and ZnOстатья

Информация о цитировании статьи получена из Web of Science, Scopus
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 8 апреля 2022 г.

Авторы: Dmitrienko Vladimir E., Ovchinnikova Elena N., Kolchinskaya Anastasiya M., Oreshko Aleksey P., Bazhanov Dmitry I., Kokubun Jun, Ishida Kohtaro, Collins Steve P., Mukhamedzhanov Enver Kh
Журнал: AIP Conference Proceedings
Том: 999
Год издания: 2008
Первая страница: 1
Последняя страница: 11
DOI: 10.1063/1.2918105
Добавил в систему: Овчинникова Елена Николаевна

	ИСТИНА	Войти в систему Регистрация
	ИСТИНА ИНХС РАН
	Главная Поиск Статистика О проекте Помощь

ИСТИНА

ИСТИНА ИНХС РАН

Modeling of the Thermal-Motion-Induced Effects in Resonant X-ray Diffraction Observed for Ge and ZnOстатья