|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
The measuring of thermal properties of thin dielectric films with the use of periodical heating probe methodстатья
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 29 мая 2015 г.
- Авторы: Davitadze S.T., Kravchun S.N., Strukov B.A., Goltzman B.M., Lemanov V.V., Shulman S.G.
- Журнал: Journal of the Korean Physical Society
- Том: 32
- Год издания: 1998
- Издательство: Han'guk Mulli Hakhoe
- Местоположение издательства: Korea, Republic of
- Первая страница: 253
- Последняя страница: 255
- Аннотация: The theory of the method for a three layer system (probe-film-semiinfinitive substrate) that authors developed, has revealed that it is possible to determine the heat capacitance and thermal conductivity of thin dielectric films on a massive substrate. The results of measurements of the thermal conductivity of 2 mu m polycrystalline SrTiO3 film on a sapphire substrate are presented.
- Добавил в систему: Струков Борис Анатольевич