Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИСТИНА ИНХС РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Контроль дефектов морфологии и топологии микро- и наносхем
тезисы доклада
Авторы:
Федотов А.Ю.
,
Ральникова А.С.
,
Вахрушев А.В.
Сборник:
Тезисы VIII международной конференции "Кристаллизация: компьютерные модели, эксперимент, технологии"
Тезисы
Год издания:
2019
Место издания:
УдмФИЦ УрО РАН Ижевск
Первая страница:
90
Последняя страница:
92
Добавил в систему:
Федотов Алексей Юрьевич