Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИСТИНА ИНХС РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Разработка микромонитора для испытаний микроэлектроники на стойкость при воздействии тяжелых заряженных частиц
статья
Статья опубликована в журнале из перечня ВАК
Авторы:
Анохин М.В.
,
Галкин В.И.
,
Дитлов В.А.
,
Дубов А.Е.
,
Королёв А.Г.
,
Чабанов В.М.
Журнал:
Вопросы атомной науки и техники. Серия: физика радиационного воздействия на радиоэлектронную аппаратуру
Том:
2
Год издания:
2013
Издательство:
Акционерное общество "Научно-исследовательский институт приборов"
Местоположение издательства:
Лыткарино
Первая страница:
87
Последняя страница:
92
Добавил в систему:
Сигаева Екатерина Александровна