|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
Near-field probing of Bloch surface waves in a dielectric multilayer using photonic force microscopyстатья
Информация о цитировании статьи получена из
Web of Science,
Scopus
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 1 августа 2016 г.
- Авторы: Shilkin Daniil A., Lyubin Evgeny V., Soboleva Irina V., Fedyanin Andrey A.
- Журнал: Journal of the Optical Society of America B: Optical Physics
- Том: 33
- Номер: 6
- Год издания: 2016
- Издательство: Optical Society of America
- Местоположение издательства: United States
- Первая страница: 1120
- Последняя страница: 1127
- DOI: 10.1364/JOSAB.33.001120
- Аннотация: The potential of photonic force microscopy (PFM) for probing the optical near-field in the vicinity of a dielectric multilayer is demonstrated. An experimental study of Bloch surface waves (BSWs) using PFM is described in detail. The applied technique is based on measuring the BSW-induced gradient force acting on a probe particle combined with precise control of the distance between the particle and the multilayer surface. The BSW-induced potential profile measured using PFM is presented. The force interaction between the probe and the BSW evanescent field is numerically studied. The results indicate that a polystyrene particle with a diameter of 1 μm does not significantly perturb the BSW field and can be used to probe the optical near-field intensity in an elegant, noninvasive manner.
- Добавил в систему: Шилкин Даниил Александрович
Прикрепленные файлы
| № | Имя | Описание | Имя файла | Размер | Добавлен |
|---|---|---|---|---|---|
| 1. | Полный текст | JOSAB33_1120_2016.pdf | 3,0 МБ | 13 июня 2016 [fedyanin] |