|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
X-ray reflectometry of the specific features of structural distortions of He+-implanted Si(001) surface layersстатья
Информация о цитировании статьи получена из
Web of Science,
Scopus
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 28 июня 2016 г.
- Авторы: Lomov A.A., Myakonkikh A.V., Rudenko K.V., Chesnokov Yu M.
- Журнал: Crystallography Reports
- Том: 59
- Номер: 3
- Год издания: 2014
- Издательство: Maik Nauka/Interperiodica Publishing
- Местоположение издательства: Russian Federation
- Первая страница: 331
- Последняя страница: 337
- DOI: 10.1134/S1063774514020138
- Добавил в систему: Руденко Константин Васильевич