|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
Методика оценки интенсивности одиночных сбоев интегральных микросхем при воздействии тяжелых ионов космического пространства Н.В.Кузнецов, Р.А.Ныммик, Г.Г.Соловьев, В.В.Хаустов, В.А.Щербаковстатья
- Авторы: Кузнецов Н.В., Ныммик Р.А., Соловьев Г.Г., Хаустов В.В., Щербаков В.А., Эмишян М.С.
- Сборник: Препринт НИИЯФ МГУ No 96-12/419
- Год издания: 1996
- Место издания: издательство НИИЯФ МГУ Москва
- Первая страница: 1
- Последняя страница: 23
- Аннотация: В работе систематизированы сведения, необходимые для оценки и прогнозирования одиночных сбоев цифровых интегральных микросхем при вохдействий тяжелых ионов космических лучей.
- Добавил в систему: Ныммик Рихо Альфредович