|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
ИССЛЕДОВАНИЕ СТРУКТУРЫ SIO2/SI, ПОСЛЕДОВАТЕЛЬНО ИМПЛАНТИРОВАННОЙ ИОНАМИ 64ZN+ И 16О+ И ТЕРМООБРАБОТАННОЙ В НЕЙТРАЛЬНО-ИНЕРТНОЙ СРЕДЕстатья
Статья опубликована в журнале из списка RSCI Web of Science
- Авторы: Привезенцев В.В., Куликаускас В.С., Затекин В.В., Зиненко В.И., Агафонов Ю.А., Егоров В.К., Штейнман Э.А., Терещенко А.Н., Щербачев К.Д.
- Журнал: Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования
- Номер: 5
- Год издания: 2019
- Издательство: ФГБУ "Издательство "Наука"
- Местоположение издательства: Москва
- Первая страница: 29
- Последняя страница: 34
- Добавил в систему: Затекин Владимир Витальевич