|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
Influence of Pixelization on Height Measurement in Atomic Force Microscopyстатья
Статья опубликована в высокорейтинговом журнале
Информация о цитировании статьи получена из
Web of Science,
Scopus
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 20 декабря 2019 г.
- Авторы: Tolstova Anna P., Dubrovin Evgeniy V.
- Журнал: Ultramicroscopy
- Том: 207
- Год издания: 2019
- Издательство: Elsevier BV
- Местоположение издательства: Netherlands
- Первая страница: 112846
- DOI: 10.1016/j.ultramic.2019.112846
- Добавил в систему: Дубровин Евгений Владимирович
Прикрепленные файлы
| № | Имя | Описание | Имя файла | Размер | Добавлен |
|---|---|---|---|---|---|
| 1. | Полный текст | Influence of pixelization on height measurement in atomic force microscopy | Influence_of_pixelization_on_height_measurement_in_atomic_f… | 1,7 МБ | 7 ноября 2019 [dve2] |
| 2. | Supplementary material | Supplementary_material_Influence_of_pixelization_on_height_… | 157,2 КБ | 7 ноября 2019 [dve2] |