|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
Изотопный анализ высокообогащенного кристаллического 28Si и исходного 28SiF4 методом масс-спектрометрии высокого разрешения с индуктивно связанной плазмойстатья
Статья опубликована в журнале из списка RSCI Web of Science
Статья опубликована в журнале из перечня ВАКДата последнего поиска статьи во внешних источниках: 28 февраля 2020 г.
- Авторы: Отопкова П.А., Потапов А.М., Сучков А.И., Буланов А.Д., Лашков А.Ю., Курганова А.Е.
- Журнал: Масс-спектрометрия
- Том: 15
- Номер: 3
- Год издания: 2018
- Издательство: Всерос. масс-спектрометр. о-во
- Местоположение издательства: М.
- Первая страница: 209
- Последняя страница: 215
- DOI: 10.25703/ms.2018.15.35
- Добавил в систему: Лашков Артем Юрьевич
Прикрепленные файлы
| № | Имя | Описание | Имя файла | Размер | Добавлен |
|---|---|---|---|---|---|
| 1. | Полный текст | Otopkova_Izotopnyij_analiz_vyisokoobogaschennogo_28Si_elibr… | 5,1 МБ | 25 сентября 2019 [Mkrtych] |