Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИСТИНА ИНХС РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
“Refractive index and thickness changes in thin films exposed to vacuum and ambient air
статья
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 28 мая 2015 г.
Авторы:
Tikhonravov A.V.
,
Trubetskov M.K.
,
Kochikov I.V.
Сборник:
OSA Annual Meeting/ILS-XYI Conference
Год издания:
2000
Место издания:
Providence, Rhode Island
Первая страница:
22
Последняя страница:
26
Добавил в систему:
Тихонравов Александр Владимирович