Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИСТИНА ИНХС РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Testing Digital Circuits: Studying the Increment of the Number of States and Estimating the Fault Coverage
статья
Информация о цитировании статьи получена из
Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 1 апреля 2020 г.
Авторы:
Vinarskii E.
,
Laputenko A.
,
López J.
,
Kushik N.
Сборник:
2018 19th International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices (EDM)
Год издания:
2018
Первая страница:
6403
Последняя страница:
6408
DOI:
10.1109/EDM.2018.8435051
Добавил в систему:
Винарский Евгений Максимович