Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИСТИНА ИНХС РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Измерение электрофизических свойств металлических микроконтактов с применением методов фрактальной геометрии для анализа данных атомно-силовой микроскопии
статья
Статья опубликована в журнале из списка RSCI Web of Science
Авторы:
Кутровская С.В.
,
Антипов А.А.
,
Аракелян С.М.
,
Кучерик А.О.
,
Осипов А.В.
Журнал:
Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования
Том:
3
Год издания:
2017
Издательство:
ФГБУ "Издательство "Наука"
Местоположение издательства:
Москва
Первая страница:
59
Последняя страница:
65
Добавил в систему:
Кучерик Алексей Олегович