|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
ИССЛЕДОВАНИЕ МЕТОДОМ СКАНИРУЮЩЕЙ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ ДЕФОРМАЦИИ МИКРОФАЗОВОЙ СТРУКТУРЫ ПОЛИМЕРНЫХ МАТРИЦ ПРИ МЕХАНИЧЕСКОМ НАГРУЖЕНИИстатья
Статья опубликована в журнале из списка RSCI Web of Science
- Авторы: Деев И.С., Каблов Е.Н., Кобец Л.П., Чурсова Л.В.
- Журнал: Труды ВИАМ
- Номер: 7
- Год издания: 2014
- Первая страница: 6
- Последняя страница: 6
- Аннотация: Методом сканирующей электронной микроскопии (СЭМ) по специальной методике высокого разрешения исследована деформация микрофазовой структуры поверхности разрушения полимерных матриц в эпоксидных угле-, стекло- и органопластиках при механическом нагружении. Установлено, что под действием механического нагружения композитов происходит перестройка структуры эпоксидной матрицы. Обнаружено, что термореактивные полимерные матрицы в процессе механического нагружения способны пластически (необратимо) деформироваться вплоть до частичного или полного распада ассоциатов частиц дисперсной фазы с образованием структур линейного типа. Показано, что степень деформации микрофазовой структуры полимерной матрицы зависит от скорости силового воздействия на композит. Разрушение полимерных матриц в угле-, стекло- и органопластиках при механическом нагружении определяется деформационными процессами «торсионного» (ротационного) типа, связанными с взаимным разворотом локальных объемов матрицы (торсионов).
- Добавил в систему: Каблов Евгений Николаевич