В связи с техническими работами в центре обработки данных, возможность загрузки и скачивания файлов временно недоступна.
 

Компьютерный анализ АСМ-изображений поверхности кремния, имплантированного ионами цинка и окисленного при повышенных температурахстатья

Статья опубликована в журнале из списка RSCI Web of Science
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 10 июня 2020 г.