Update on scribe-cleave-passivate (SCP) slim edge technology for silicon sensors: Automated processing and radiation resistanceстатья
Информация о цитировании статьи получена из
Web of Science,
Scopus
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 6 сентября 2016 г.