|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
Determination of the valence-electron components of the atomic scattering factor of silicon by means of a Compton effect excited by an x-ray standing waveстатья
Информация о цитировании статьи получена из
Web of Science
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 1 апреля 2022 г.
- Авторы: Bushuev V.A., Kazimirov A.Yu, Koval’chuk M.V.
- Журнал: JETP Letters
- Том: 47
- Номер: 3
- Год издания: 1988
- Издательство: Maik Nauka/Interperiodica Publishing
- Местоположение издательства: Russian Federation
- Первая страница: 187
- Последняя страница: 191
- Добавил в систему: Бушуев Владимир Алексеевич
Прикрепленные файлы
| № | Имя | Описание | Имя файла | Размер | Добавлен |
|---|---|---|---|---|---|
| 1. | Полный текст | JETP_Lett_1988-473-p187_-_Determination_of_the_valence-elec… | 251,1 КБ | 15 августа 2019 [bushuevVA] |