Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИСТИНА ИНХС РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Определение стехиометрии и толщины нитридных покрытий с помощью метода обратного рассеяния протонов
тезисы доклада
Авторы:
Романовский Е.А.
,
Горяга Н.Г.
,
Борисов А.М.
,
Куликаускас В.С.
,
Ходырев В.А.
,
Данг Лам
,
Нгуен Мак Ха
Сборник:
Тезисы докладов 44 Международного совещания по ядерной спектроскопии и строению атомного ядра
Тезисы
Год издания:
1994
Место издания:
Изд.С.-Пб
Первая страница:
197
Последняя страница:
197
Добавил в систему:
Медведева Лариса Александровна