|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
Метод редукции в обратной задаче определения параметров тонких электронных пучков по кривым набеганиятезисы доклада
- Авторы: Грачев Е.А., Черемухин Е.А., Чуличков А.И.
- Сборник: XII Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел РЭМ’2001
- Тезисы
- Год издания: 2001
- Место издания: Черноголовка
- Первая страница: 132
- Последняя страница: 132
- Добавил в систему: Чуличков Алексей Иванович