Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИСТИНА ИНХС РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Метод редукции в обратной задаче определения параметров тонких электронных пучков по кривым набегания
тезисы доклада
Авторы:
Грачев Е.А.
,
Черемухин Е.А.
,
Чуличков А.И.
Сборник:
XII Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел РЭМ’2001
Тезисы
Год издания:
2001
Место издания:
Черноголовка
Первая страница:
132
Последняя страница:
132
Добавил в систему:
Чуличков Алексей Иванович