Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИСТИНА ИНХС РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
TCAD-based performance analysis of nanoscale vacuum field-emission transistors at advanced technology nodes
статья
Авторы:
Evsikov I.D.
,
Djuzhev N.A.
,
Demin G.D.
,
Makhiboroda M.A.
Сборник:
Proceedings of SPIE
Том:
11022
Год издания:
2019
Место издания:
SPIE
Добавил в систему:
Демин Глеб Дмитриевич