Impedance spectroscopy of in-plane anisotropic porous silicon filmsстатья

Информация о цитировании статьи получена из Scopus, Web of Science
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 19 июля 2013 г.

Работа с статьей


[1] Impedance spectroscopy of in-plane anisotropic porous silicon films / P. A. Forsh, M. N. Martyshov, V. Y. Timoshenko, P. K. Kashkarov // Physica Status Solidi (C) Current Topics in Solid State Physics. — 2007. — Vol. 4, no. 6. — P. 1981–1985.

Публикация в формате сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл скрыть