|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
Non-destructive characterization of epitaxial perovskite layers by Raman spectrometryстатья
- Авторы: Amelitchev V.A., Novojilov M.A., Gorbenko O.Yu, Kaul A.R., Guttler B.
- Сборник: Proceedings of the International Conference "Thin Film Deposition of Oxide Multilayers. Industrial Scale Processing", Vilnius, Lithuania, 28-29 September, 2000
- Год издания: 2000
- Место издания: Eds. B.Vengalis, A.Abrutis Vilnius University Press
- Первая страница: 91
- Последняя страница: 94
- Добавил в систему: Кауль Андрей Рафаилович