Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИСТИНА ИНХС РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Shannon functions of stuck-at faults test set cardinalities for Boolean circuits – A survey
статья
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 4 августа 2021 г.
Авторы:
Romanov D.
,
Romanova E.
Сборник:
Economic and Social Development (Book of Proceedings), 60th International Scientific Conference on Economic and Social Development – XX International Social Congress (ISC 2020)
Год издания:
2020
Место издания:
Varazdin Development and Entrepreneurship Agency Varazdin (Croatia)
Первая страница:
347
Последняя страница:
354
Добавил в систему:
Романов Дмитрий Сергеевич